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C.1 Arrondissement des nombres pour l'utilisation de la méthode du calcul fictif

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2,449

2,449

25,0478

25,0478

25,0478



≈2,45

≈2,4

≈ 25,048

≈ 25,05

≈ 25,0



arrondi à deux décimales

arrondi à une décimale

arrondi à trois décimales

arrondi à deux décimales

arrondi à une décimale



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Exemples:



60502-2 © CEI:2014

– 162 –



– 163 –



Annexe D

(normative)

Méthode de mesure de la résistivité des écrans semiconducteurs



Les éprouvettes doivent être prélevées sur des échantillons de câble complet de 150 mm.

Pour l'écran sur âme, l'éprouvette doit être préparée en coupant le conducteur isolé en deux

dans le sens de la longueur et en retirant l'âme et le séparateur éventuel (voir Figure D.1a).

Pour l'écran sur enveloppe isolante, l'éprouvette est préparée en retirant tous les revêtements

sur l’échantillon de conducteur (voir Figure D.1b).

La résistivité volumique des écrans doit être déterminée de la faỗon suivante:

Quatre ộlectrodes rộalisộes l'aide de peinture argentộe A, B, C et D (voir Figures D.1a et

D.1b) doivent être appliquées sur les surfaces semiconductrices. Les deux électrodes de

tension, B et C, doivent être placées à 50 mm l'une de l'autre et les deux électrodes de

courant, A et D, à une distance d'au moins 25 mm au-delà des électrodes de tension.

Les connexions doivent être réalisées sur les électrodes au moyen de colliers appropriés. En

effectuant le raccordement aux électrodes de l'écran sur âme, on doit s'assurer qu'à la

surface externe de l'échantillon, les colliers sont bien isolés de l'écran sur enveloppe isolante.

L’échantillon doit être placé dans une étuve préchauffée à la température spécifiée. Après

une durée d’au moins 30 min, la résistance entre les électrodes doit être mesurée au moyen

d'un circuit dont la puissance ne doit pas dépasser 100 mW.

Après les mesures électriques, on doit mesurer, à température ambiante, les diamètres sur

l'écran sur âme et sur enveloppe isolante, ainsi que les épaisseurs des écrans sur âme et sur

enveloppe isolante, chaque valeur retenue étant la moyenne de six mesures effectuées sur

l'éprouvette représentée à la Figure D.1b.



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60502-2 © CEI:2014



60502-2 © CEI:2014



La résistivité volumique ρ en ohm · mètres est ensuite calculée de la manière suivante:

a) écran sur âme



ρc =



R c × π × (D c − Tc ) × Tc

2Lc







ρc



est la résistivité volumique, en ohm · mètres;



Rc



est la résistance mesurée, en ohms;



Lc



est la distance entre les électrodes de tension, en mètres;



Dc



est le diamètre extérieur sur l'écran sur âme, en mètres;



Tc



est l'épaisseur moyenne de l'écran sur âme, en mètres.



b) écran sur enveloppe isolante



ρi =



R i × π × (D i − Ti ) × Ti

Li



ó



ρi



est la résistivité volumique, en ohm · mètres;



Ri



est la résistance mesurée, en ohms;



Li



est la distance entre les électrodes de tension, en mètres;



D i est le diamètre extérieur sur l’écran sur enveloppe isolante, en mètres;

T i est l'épaisseur moyenne de l'écran sur enveloppe isolante, en mètres.



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– 164 –



– 165 –

Dimensions en millimètres



D



1

C

2



B



≥ 25 mm



A

50 mm



≥ 25 mm



IEC 2417/11



Légende

1



écran sur enveloppe isolante



B, C



électrodes de tension



2



écran sur âme



A, D



électrodes de courant



Figure D.1a – Mesure de la résistivité volumique de l'écran sur âme



Dimensions in millimetres

1



2

≥ 25 mm



50 mm

D



≥ 25 mm

C



B

A



IEC 2418/11



Légende

1



écran sur enveloppe isolante



B, C



électrodes de tension



2



écran sur âme



A, D



électrodes de courant



Figure D.1b – Mesure de la résistivité volumique de l'écran sur enveloppe isolante



Figure D.1 – Préparation des échantillons pour la mesure de la résistivité des écrans

sur âme et sur enveloppe isolante



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60502-2 © CEI:2014



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Annexe E

(normative)

Détermination de la dureté des enveloppes isolantes en HEPR



E.1



Eprouvette



L'éprouvette doit être constituée d'un échantillon de câble complet, dont on a soigneusement

ôté tous les revêtements extérieurs à la surface de l'enveloppe isolante en HEPR à mesurer.

En variante, on peut utiliser un échantillon de conducteur isolé.



E.2

E.2.1



Procédure d'essai

Généralités



Les essais doivent être réalisés conformément à l'ISO 48, compte tenu des exceptions

indiquées ci-dessous.

E.2.2



Surfaces de grand rayon de courbure



Conformément à l'ISO 48, I'appareillage d'essai doit être construit de faỗon reposer

fermement sur la surface de l'enveloppe isolante en HEPR, et permettre au pied presseur et

au pénétreur de réaliser un contact vertical avec cette surface. Cela est réalisé de l'une des

faỗons suivantes:

a) I'appareillage est muni d'un pied mobile comportant des appuis articulés s'ajustant d'euxmêmes à la courbure de la surface;

b) la base de l'instrument est munie de deux tiges parallèles A et A' dont l'écartement

dépend de la courbure de la surface (voir Figure E.1).

Ces méthodes peuvent être utilisées sur des surfaces dont le rayon de courbure descend

jusqu'à 20 mm.

Lorsque l'épaisseur de l'enveloppe isolante en HEPR à essayer est inférieure à 4 mm, on doit

utiliser un appareillage tel que décrit dans l'ISO 48 pour les éprouvettes minces et de petite

taille.

E.2.3



Surfaces de petit rayon de courbure



Sur les surfaces dont le rayon de courbure est trop faible pour pouvoir utiliser les procédures

décrites en E.2.2, I'éprouvette doit être supportée par la même base rigide que l'appareillage

d'essai, de faỗon limiter le dộrapage de la surface de l'enveloppe isolante en HEPR lorsque

la force de pộnộtration est appliquộe au pộnộtreur, et de faỗon que l'indenteur se trouve à la

verticale de l'axe de l'éprouvette. Les procédures appropriées sont les suivantes:

a) faire reposer l'éprouvette dans un gabarit métallique en forme de gorge ou de goulotte

(voir Figure E.2a);

b) faire reposer les extrémités de l'âme de l'éprouvette dans des blocs en forme de V (voir

Figure E.2b).

Le plus petit rayon de courbure de la surface à mesurer par ces méthodes doit être d'au

moins 4 mm.

Pour les rayons de courbure plus faibles, on doit utiliser un appareillage tel que décrit dans

l'ISO 48 pour les éprouvettes minces et de petite taille.



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