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Tableau H.4 – Facteur k4 pour différentes températures de l’air à l’intérieur de l’ensemble et /ou pour les conducteurs

Tableau H.4 – Facteur k4 pour différentes températures de l’air à l’intérieur de l’ensemble et /ou pour les conducteurs

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– 249 –



Annexe J

(normative)

Compatibilité électromagnétique (CEM)



J.1



Généralités



Cette annexe normative s'applique à la compatibilité électromagnétique des ENSEMBLES qui

intègrent des circuits électroniques qui ne sont pas conformes à J.9.4.2.

La numérotation des paragraphes de cette annexe est alignée sur celle du corps de la norme.



J.2



Termes et définitions



Pour les besoins de la présente annexe, les termes et définitions suivants s’appliquent.

(voir Figure J.1)

J.3.8.12.1

accès

interface particulière de l'appareil spécifié avec l'environnement électromagnétique externe



Accès par les bornes

de signaux (câbles)



Accès par l'enveloppe

Accès par l'alimentation

(c.a./c.c.)



Appareil

Accès par la borne

de terre

IEC 2055/08



Figure J.1 – Exemples d'accès

J.3.8.12.2

accès par l'enveloppe

frontière physique de l'appareil à travers laquelle les champs électromagnétiques peuvent

rayonner ou à laquelle ils peuvent se heurter

J.3.8.12.3

accès par la borne de terre fonctionnelle

accès qui n'est pas un accès par les bornes de signaux, commande ou puissance destiné au

raccordement à la terre à des fins autres que la sécurité électrique

J.3.8.12.4

accès par les bornes de signaux

accès sur lequel un conducteur ou câble transportant de l'information pour le transfert de

données est raccordé à l'appareil

NOTE Comme exemples on peut citer les bus de données, les réseaux de communication, les réseaux de

commande.



– 250 –



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J.3.8.12.5

accès par l'alimentation

accès sur lequel un conducteur ou câble transportant la puissance électrique primaire

nécessaire au fonctionnement d'un appareil ou d'appareils associés est raccordé à l'appareil

J.9.4

J.9.4.1



Exigences de performance

Généralités



Pour la plupart des applications d' ENSEMBLES qui entrent dans le domaine d'application de la

présente norme, deux sortes de conditions environnementales sont prises en compte et elles

sont désignées comme suit

a)



Environnement A;



b)



Environnement B.



Environnement A: concerne les réseaux/locaux/installations à basse tension non publics ou

industriels comprenant des sources de perturbations importantes.

NOTE 1



L'environnement A correspond aux équipements de la Classe A du CISPR 11 et de la CEI 61000-6-4.



NOTE 2



Les locaux industriels sont caractérisés par une ou plusieurs des conditions suivantes:

-



présence d'équipements industriels, scientifiques et médicaux par exemple des machines outils;



-



des connexions ou déconnexions fréquentes de charges inductives ou capacitives importantes;



-



des valeurs élevées de courants et de champs magnétiques associés.



Environnement B: fait référence aux réseaux publics à basse tension tels que les

locaux/installations à usage d'habitation, commercial et industriel léger. Les sources de

perturbations importantes telles que les appareils de soudage à l'arc ne sont pas incluses

dans cet environnement.

NOTE 3



L'environnement B correspond aux équipements de la classe B du CISPR 11.



NOTE 4



La liste suivante, bien que non exhaustive, donne une indication sur les locaux qui sont concernés:

-



propriétés résidentielles, par exemple maisons, appartements;



-



points de vente au détail, par exemple magasins, magasins de grande surface;



-



locaux professionnels, par exemple bureaux, banques;



-



lieux de divertissement recevant du public, par exemple cinémas, bars, salles de danse;



-



locaux extérieurs, par exemple stations d'essence, parcs de stationnement pour voitures, centres

sportifs;



-



locaux pour l'industrie légère, par exemple ateliers, laboratoires, centres de services.



L'environnement A et/ou B pour lequel l' ENSEMBLE est adapté doit être indiqué par le fabricant

d' ENSEMBLES .

J.9.4.2



Exigences d’essai



Les ENSEMBLES sont dans la plupart des cas fabriqués ou assemblés à l'unité, par

incorporation d'une combinaison plus ou moins aléatoire d’appareils et de composants.

Aucun essai d'immunité ou d'émission CEM n'est exigé sur les ENSEMBLES finis si les

conditions suivantes sont satisfaites:

a) Les appareils et les composants incorporés sont conformes aux exigences de CEM

pour l'environnement spécifié (voir J.9.4.1) comme exigé par la norme de produit ou la

norme CEM générique applicable.

b) L'installation interne et le câblage sont effectués conformément aux instructions des

fabricants des composants et des appareils (disposition concernant les influences

mutuelles, câbles, blindage, mise à la terre, etc.)



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– 251 –



Dans tous les autres cas, les exigences CEM doivent être vérifiées par les essais selon

J.10.12.

J.9.4.3



Immunité



J.9.4.3.1



ENSEMBLES



n’intégrant pas de circuits électroniques



Dans les conditions d'emploi normales, les ENSEMBLES qui ne comportent pas de circuits

électroniques ne sont pas sensibles aux perturbations électromagnétiques et, par

conséquent, ne nécessitent aucun essai d'immunité.

J.9.4.3.2



ENSEMBLES



intégrant des circuits électroniques



Les équipements électroniques incorporés dans les ENSEMBLES doivent être conformes aux

exigences d'immunité de la norme de produit ou de la norme CEM générique applicable et

doivent être adaptés à l'environnement CEM spécifié indiqué par le fabricant d'ENSEMBLES .

Dans tous les autres cas, les exigences CEM doivent être vérifiées par les essais selon

J.10.12.

Un équipement qui utilise des circuits électroniques dans lesquels tous les composants sont

passifs (par exemple des diodes, résistances, varistances, condensateurs, parafoudres,

bobines d'inductance) ne nécessite pas d'essai d'immunité.

Le fabricant d' ENSEMBLES doit obtenir du fabricant des composants et des appareils les

critères de performances spécifiques du produit sur la base des critères d'acceptation donnés

dans la norme de produit applicable.

J.9.4.4



Emission



J.9.4.4.1



ENSEMBLES



n’intégrant pas de circuits électroniques



Pour les ENSEMBLES qui n'incorporent pas de circuits électroniques, des perturbations

électromagnétiques ne peuvent être générées par les appareils qu'au cours de coupures

occasionnelles. La durée de ces perturbations est de l'ordre de quelques millisecondes. La

fréquence, le niveau et les conséquences de ces émissions sont considérés comme faisant

partie de l'environnement électromagnétique normal des installations à basse tension. En

conséquence, les exigences relatives aux émissions électromagnétiques sont considérées

comme satisfaites et aucune vérification n'est nécessaire.

J.9.4.4.2



ENSEMBLES



intégrant des circuits électroniques



Les équipements électroniques incorporés dans les ENSEMBLES doivent être conformes aux

exigences d'émission de la norme de produit ou de la norme CEM générique applicable et

doivent être adaptés à l'environnement CEM spécifié indiqué par le fabricant d'ENSEMBLES .

J.9.4.4.2.1



Fréquences égales ou supérieures à 9 kHz



Les ENSEMBLES incorporant des circuits électroniques (tels que alimentations électriques à

mode commuté, circuits incorporant des microprocesseurs avec horloges haute fréquence)

peuvent générer des perturbations électromagnétiques continues.

De telles émissions ne doivent pas excéder les limites spécifiées dans la norme de produit

applicable, ou doivent être fondées sur le Tableau J.1 pour un environnement A et/ou le

Tableau J.2 pour un environnement B. Ces essais ne sont nécessaires que lorsque les

circuits principaux et/ou auxiliaires comportent des composants dont les fréquences de

commutation fondamentales sont supérieures ou égales à 9 kHz.



– 252 –



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Les essais doivent être effectués selon les exigences de la norme de produit applicable

éventuelle, ou autrement selon J.10.12.

J.9.4.4.2.2



Fréquences inférieures à 9 kHz



Les ENSEMBLES incorporant des circuits électroniques et qui génèrent des harmoniques à

basse fréquence sur le réseau d'alimentation doivent satisfaire aux exigences de la

CEI 61000-3-2 pour autant qu'elles s'appliquent.

J.10.12



Essais pour la CEM



Les unités fonctionnelles contenues dans les ENSEMBLES qui ne satisfont pas aux exigences

de J.9.4.2 a) et b) doivent être soumises aux essais suivants, en fonction de ce qui est

applicable.

Les essais d'émission et d'immunité doivent être effectués conformément à la norme CEM

applicable (voir Tableaux J.1, J.2, J.3 et J.4); toutefois, le fabricant d' ENSEMBLES doit spécifier

toute mesure supplémentaire nécessaire pour vérifier les critères de performances des

ENSEMBLES si nécessaire (par exemple application des temps de palier).

J.10.12.1

J.10.12.1.1



Essais d’immunité

ENSEMBLES



n’intégrant pas de circuits électroniques



Aucun essai n'est nécessaire; voir J.9.4.3.1.

J.10.12.1.2



ENSEMBLES



intégrant des circuits électroniques



Les essais doivent être effectués en fonction de l'environnement applicable A ou B. Les

valeurs sont données au Tableau J.3 et/ou J.4 sauf lorsqu'un niveau d'essai différent est

donné dans la norme de produit particulière applicable et qu'il est justifié par le fabricant de

composants électroniques.

Les critères de performance doivent être indiqués par le fabricant d' ENSEMBLES à partir des

critères d'acceptation du Tableau J.5.

J.10.12.2

J.10.12.2.1



Essais d’émission

ENSEMBLES



n’intégrant pas de circuits électroniques



Aucun essai n'est nécessaire; voir J.9.4.4.1.

J.10.12.2.2



ENSEMBLES



intégrant des circuits électroniques



Le fabricant d' ENSEMBLES doit spécifier les méthodes d'essai utilisées; voir J.9.4.4.2.



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– 253 –



Tableau J.1 – Limites d'émission pour l'environnement A

NOTE



Ces limites sont extraites du CISPR 11 et n'ont pas été modifiées.

Point



Emissions rayonnées



Domaine de

fréquences

MHz a)



Limites



Norme de référence



30 – 230



30 dB ( μ V/m) en valeur de

quasi crête

à 30 m b)



CEI 61000-6-4 ou CISPR 11,

Classe A, Groupe 1



230 – 1000



37 dB ( μ V/m) en valeur de

quasi crête

à 30 m b)



0,15 – 0,5



79 dB ( μ V) en valeur de

quasi crête

66 dB ( μ V) en valeur

moyenne



0,5 – 5



73 dB ( μ V) en valeur de

quasi crête

60 dB ( μ V) en valeur

moyenne



5 – 30



73 dB ( μ V) en valeur de

quasi crête

60 dB ( μ V) en valeur

moyenne



Emissions conduites



a) La limite inférieure doit être appliquée à la fréquence de transition.

b) Peut être mesuré à une distance de 10 m avec les limites augmentées de 10 dB ou à une distance de 3 m avec

les limites augmentées de 20 dB.



Si l' ENSEMBLE comporte des accès de télécommunication, les exigences d'émission du

CISPR 22 applicables à ces accès et à l'environnement choisi doivent s'appliquer.

Tableau J.2 – Limites d'émission pour l'environnement B

NOTE



Ces limites sont extraites du CISPR 11 et n'ont pas été modifiées.

Point



Domaine de

fréquences

MHz a)



Limites



30 – 230



30 dB ( μ V/m) en valeur de

quasi crête

à 10 m b)



Emissions rayonnées



Emissions conduites



230 – 1000



37 dB ( μ V/m) en valeur de

quasi crête

à 10 m b)



0,15 – 0,5

Les limites diminuent de

manière linéaire avec le

log de la fréquence



66 dB ( μ V) – 56 dB ( μV)

en valeur de quasi crête

56 dB ( μ V) – 46 dB ( μV)

en valeur moyenne



0,5 – 5



56 dB ( μ V) en valeur de

quasi crête

46 dB ( μ V) en valeur

moyenne



Norme de référence



CISPR 11

Classe B, Groupe 1



60 dB ( μ V) en valeur de

quasi crête

50 dB ( μ V) en valeur

moyenne

a) La limite inférieure doit être appliquée à la fréquence de transition.

b) Peut être mesuré à une distance de 3 m avec les limites augmentées de 10 dB.

5 – 30



Si l' ENSEMBLE comporte des accès de télécommunication, les exigences d'émission du

CISPR 22 applicables à ces accès et à l'environnement choisi doivent s'appliquer.



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– 254 –



Tableau J.3 – Essais d'immunité CEM pour l'environnement A

(voir J.10.12.1)

Type d'essai



Essai d'immunité aux décharges

électrostatiques

CEI 61000-4-2

Essai d’immunité aux champs

électromagnétiques rayonnés

CEI 61000-4-3 de 80 MHz à 1 GHz et 1,4 GHz

à 2 GHz

Essai d'immunité aux transitoires électriques

rapides en salves

CEI 61000-4-4

1,2/50 μ s et 8/20 μs essai d'immunité aux

ondes de chocs

CEI 61000-4-5 a)



Niveau d'essai exigé



Critère de

performance c)



± 8 kV / décharge dans l'air

ou ± 4 kV / décharge au contact



B



10 V/m sur l'accès par l'enveloppe



A



± 2 kV sur les accès par l'alimentation

± 1 kV sur les accès par les bornes de

signaux y compris les circuits auxiliaires et la

terre fonctionnelle



B



± 2kV (phase-terre) sur les accès par

l'alimentation,

± 1 kV (entre phases) sur les accès par

l’alimentation,

± 1 kV (phase-terre) sur les accès par les

bornes de signaux

10 V sur les accès par l'alimentation, les

accès par les bornes de signaux et la terre

fonctionnelle



Essai d'immunité aux perturbations conduites

aux fréquences radioélectriques

CEI 61000-4-6 de 150 kHz à 80 MHz

Immunité aux champs magnétiques à la

fréquence du réseau

30 A/m b) sur les accès par l'enveloppe

CEI 61000-4-8

30 % réduction pour 0,5 cycle

Immunité aux creux et aux interruptions de

60 % réduction pour 5 et 50 cycles

tension

>95 % réduction pour 250 cycles

CEI 61000-4-11 d)

Immunité aux harmoniques du réseau

Aucune exigence

CEI 61000-4-13

a) Pour les appareils et/ou les accès d'entrée/sortie avec une tension assignée en courant continu de

moins, les essais ne sont pas nécessaires.

b) Applicable uniquement aux appareils comportant des dispositifs sensibles aux champs magnétiques.

c) Les critères de performance ne dépendent pas de l'environnement. Voir Tableau J.5.

d) Applicable uniquement aux accès par l’alimentation arrivée réseau.



B



A



A

B

C

C



24 V ou



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