Tải bản đầy đủ - 0 (trang)
Ứng dụng phương pháp phân tích SEM/TEM và nhiễu xạ tia X đánh giá tính chất vật liệu trong nguồn điện [8]

Ứng dụng phương pháp phân tích SEM/TEM và nhiễu xạ tia X đánh giá tính chất vật liệu trong nguồn điện [8]

Tải bản đầy đủ - 0trang

Kết quả được thể hiện trong hình 10, theo đó tất cả các màng niken hydroxit

thu được đều có cấu trúc của dạng α-Ni(OH)2, được thể hiện ở các pic đặc trưng

tại 10o, 34o và 60o. Theo các tài liệu tham khảo dạng α-Ni(OH)2 được hình thành

trong mơi trường có pH thấp (trong khoảng từ 6,4 đến 9) ngay ở sát bề mặt điện

cực do phản ứng (1) tạo ra. Trong dung dịch giá trị pH vẫn giữ khơng đổi



(b)



(a)



Hình 10: (a) - Giản đồ nhiễu xạ tia X của màng Ni(OH)2

(b) - Ảnh SEM của màng Ni(OH)2 với độ phóng đại đến 1um



Kết quả chụp ảnh SEM trên hình 10b cho thấy bề mặt của màng niken

hydroxit khá đồng đều nhưng bị rạn nứt nhẹ chứng tỏ độ đàn hồi của màng niken

hydroxit khơng cao, có thể là do sức căng bề mặt của màng lớn. Ảnh SEM cũng

cho thấy kích thước hạt niken hydroxit nằm trong khoảng từ 100 nm ÷ 400 nm.



26

26



KẾT LUẬN



27

27



Các phương pháp phân tích cấu trúc nói riêng và phương pháp SEM/TEM,

XRD nói riêng là những phương pháp rất quan trọng trong các ngành kỹ thuật

như: hóa học, vật lý, vật liệu học, ... Các thiết bị luôn luôn được cải tiến để đáp

ứng kịp xu hướng phát triển khoa học kỹ thuật của thế giới. Đây là những công

cụ không thể thiếu cho nghiên cứu cũng như sản xuất. Việc nắm vững nguyên tắc

hoạt động của phương pháp cũng như một số thông tin liên quan giúp nghiên cứu

viên có thể sử dụng linh hoạt các phương pháp vào kết quả nghiên cứu của mình.

Trong khn khổ làm luận văn thạc sĩ của mình, đây là ba phương pháp cơ bản

nhất mà tơi sẽ sử dụng để khảo sát và đánh giá vật liệu điều chế cho nguồn

điện.TÀI



LIỆU THAM KHẢO



[1] Nguyễn Hàn Long, Bài giảng môn chuyên đề 2 – Các phương pháp phân tích

hóa lý đặc trưng cấu trúc vật liệu, 2012

[2] Michael Dunlap, 1997, Introduction the Scan Electron Microscope – Theory,

practical and procedures, Facility for advanced instrumentation – U.C. Davis. 4.

[3] Brandon Cheney, Introduction to Scanning Electron Microscopy, A part of a

Senior Project in the Materials Engineering Department at San Jose State

University.

[4] Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick

Echlin, Eric Lifshin, L.C. Sawyer, J.R. Michael (2003). Scanning Electron

Microscopy and X-ray Microanalysis. Springer; 3rd ed. ISBN-13

[5] Williams D.B., Carter C.B (1996). Transmission Electron Microscopy: A

Textbook for Materials Science. Kluwer Academic / Plenum Publishers

[6] De Graef M. (2003). Introduction to Conventional Transmission Electron

Microscopy. Cambridge University Press.

[7] Điền Thị Hải Yến, Nghiên cứu tính chất của Zeolite 4A bằng phương pháp

nhiễu xạ tia X, luận văn thạc sĩ vật lí trường ĐH Sư phạm TP HCM, 2014



28

28



[8] Nguyễn Xuân Viết, Trịnh Xuân Sén, Nguyễn Thị Cẩm Hà, Nghiên cứu điều

chế màng mỏng Ni(OH)2 bằng phương pháp điện hóa và một số yếu tố ảnh

hưởng đến cấu trúc và tính chất điện hóa của chúng, Tạp chí Hóa học T.49(4)

397 – 400.

[9] Nguồn internet Wikipedia



29

29



Tài liệu bạn tìm kiếm đã sẵn sàng tải về

Ứng dụng phương pháp phân tích SEM/TEM và nhiễu xạ tia X đánh giá tính chất vật liệu trong nguồn điện [8]

Tải bản đầy đủ ngay(0 tr)

×