Tải bản đầy đủ - 0 (trang)
CHƯƠNG IV KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

CHƯƠNG IV KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Tải bản đầy đủ - 0trang

CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử quét (SEM):



Ảnh SEM của mẫu 3 với điều kiện 180oC, 24h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử quét (SEM):



Ảnh SEM của mẫu 5 với điều kiện 240oC, 16h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử quét (SEM):



Ảnh SEM của mẫu 6 với điều kiện 240oC, 24h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Phân tích thành phần hóa trong mẫu(EDX):



Thành phần Khối lượng



Kết luận:





Khối lượng



phân tử %



nguyên tử %



CK



13.48



38.95



OK



3.10



6.73



PK



0.26



0.29



SK



33.75



36.54



Mo L



47.41



17.15



Pb M



2.00



0.33



Ảnh EDX mẫu 6 ở 2400C-24h



Dựa vào hàm lượng các chất trong mẫu ta suy ra được tỷ lệ Mo : S là 1: 2.12. Kết

quả thu được so với kết quả bài báo khoa học tham khảo (1:2) là không quá chênh lệch



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM):



Ảnh TEM của mẫu 2 với điều kiện 180oC, 16h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM):



Ảnh TEM của mẫu 3 với điều kiện 180oC, 24h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM):



Ảnh TEM của mẫu 4 với điều kiện 240oC, 8h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM):

Lớp rGO



Lớp MoS2



Ảnh TEM của mẫu 6 với điều kiện 240oC, 24h



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Nhiễu xạ tia X(XRD):

a



b



Graphite ôxít



Graphene



Cường độ



Cường độ



Graphite



Dẫn xuất của Graphene



10



20



30



40



50



60



70



80



10



20



30



2θ, º



Mẫu phổ chuẩn XRD của GO (Hình a) và MoS2/GR(Hình b)[36]



50



40

2θ, º



60



70



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Nhiễu xạ tia X(XRD):

Cường độ

(cnt) 80



Cường độ

(cnt) 90



XRD Graphene oxit



70



80

70



60



60



50



(100)



50



40



(103)



40



30



(110)



30



20



20



10

0



XRD Mẫu 6



(002)



10

10



20



30



40



50



2-Theta (độ)



Ảnh XRD của GO



60



70



80



90



0



10



20



30



40



50



60



2-Theta (độ)



Ảnh XRD của mẫu 6 ở 2400C-24h



70



80



CHƯƠNG IV: KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Nhiễu xạ tia X(XRD):

Dựa vào bảng phổ chuẩn này có thể thấy được

sự tương đồng giữa phổ XRD của mẫu 6 với

phổ chuẩn (đường cam), cả 2 hình đều thể hiện

rõ các đỉnh nhiễu xạ tại các vị trí giống nhau

nên q trình tổng hợp mẫu đã thành cơng.



600



Cường độ

(cnt)



500

400

300

200

100

0



10



20



30



40



50



2-Theta (độ)

Ảnh XRD của các mẫu



60



70



80



90



Đặc biệt tại mặt (002) có đỉnh nhọn với cường

độ nhiễu xạ cao chứng tỏ có sự tồn tại của pha

MoS2 trong mẫu thí nghiệm. Tuy nhiên vẫn còn

một vài đỉnh với cường độ yếu cho thấy trong

mẫu vẫn tồn tại tạp chất lẫn trong mẫu trong

quá trình thí nghiệm, điều này dẫn đến những

sai số trong các phép đo.



Tài liệu bạn tìm kiếm đã sẵn sàng tải về

CHƯƠNG IV KẾT QUẢ PHÂN TÍCH

Tải bản đầy đủ ngay(0 tr)

×